一、检测内容及要求
检测内容:
最大尺寸长21.35mm*宽1.57mm的产品的尺寸检测
序号 | 检测位置 | 检测方式 | 是否可检 |
1 | 麻点 | 正光检测 | 可检 |
2 | 缺损 | 正光检测 | 可检 |
3 | 裂纹 | 正光检测 | 可检 |
注明:磁性材料光学视觉检测设备检测磁瓦外观,均需在影像下清晰可见才能检测。检测效率:每分钟检测数量 不低于180件(取决于产品送料速度)。
二、设备组成及主要机构
设备型号:SP-T300标定制机 外形尺寸:900*800*1850mm
组成部件清单:
序号 | 部件名称 | 规格型号 | 数量 |
1 | 视觉检测软件 | SIPOTEK | 1套 |
2 | 工业电脑 | SIPOTEK定制 | 1套 |
3 | 显示器 | PHILIPS 19”液晶显示器 | 1台 |
4 | 工业相机 | Barsler工业相机 | 6套 |
5 | 相机调节模组 | SIPOTEK定制 | 6套 |
6 | 工业镜头 | FA高清光学工业镜头 | 6套 |
7 | 光源 | 定制光学自适应光源 | 6套 |
8 | 检测平台 | 专业光学玻璃载台 | 1套 |
9 | 伺服电机 | 松下·PANASONIC | 1套 |
10 | 控制系统 | SIPOTEK定制 | 1套 |
11 | PLC运动协作 | 松下·PANASONIC | 1套 |
设备外观3D立体图
样件测试图片:
底部正光检测原图:
底部正光检测良品分析图:OK
底部正光检测分析图: NG 不良原因:缺损
底部正光检测分析图: NG 不良原因:裂纹
底部正光检测分析图: NG 不良原因:缺损
顶部正光检测良品分析图:OK
顶部正光检测分析图: NG 不良原因:麻点
顶部正光检测分析图: NG 不良原因:麻点
顶部正光检测分析图: NG 不良原因:麻点
顶部正光检测分析图: NG 不良原因:缺损
侧面正光检测良品分析图:OK
侧面正光检测分析图:NG 不良原因:缺损
侧面正光检测分析图:NG 不良原因:裂纹
侧面正光检测分析图:NG 不良原因:裂纹
侧面正光检测良品分析图:OK
侧面正光检测分析图:NG 不良原因:裂纹
侧面正光检测分析图:NG 不良原因:缺损
侧面正光检测良品分析图:OK
侧面正光检测分析图:NG 不良原因:裂纹
侧面正光检测良品分析图:OK
侧面正光检测分析图:NG 不良原因:缺损
四、磁性材料光学视觉检测设备安装要求:
设备放置的检测空间: 立体式设备检测机台配置检测软件和所需相机光源,需要保证有足够的空间以安装设备。
环境温度: 0-50摄氏度;
空气湿度: 90% RH以下;
电子干扰: 为设备提供电子干扰较小的地方。
电源: 交流220V,50Hz, 耗电<1KVA。